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美国Hysitron PI85 扫描电镜专用微纳力学测试系统具体应用之——微米柱压缩

发布时间:2016-07-22 14:44:07  浏览量:578
  PI-85 可以组装到扫描电镜(SEM),通过该系统可以进行定量纳米力学测试并同时进行SEM成像,耦合这两项技术允许研究者在整个测试中极其精确的定位压头和变形过程成像。
  该文主要介绍了PI85纳米力学测试系统在SEM/EBSD同步条件下典型的GaAs微米柱压缩试验,伴有图例和说明。

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