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Analytik Jena ZEEnit Series


原子吸收光谱法是一种用于中低浓度范围的元素测定的成熟技术。一个特殊的挑战是复杂基体中有毒元素的痕量分析。为了满足这一要求,Analytik Jena 提供了采用成熟的塞曼扣背景技术的 ZEEnit 系列原子吸收光谱仪。这里使用的塞曼背景校正是原子吸收领域中ZUI强大的背景校正之一,确 保了结果的可 靠性。

两款仪器,ZEEnit 650 P 和 ZEEnit 700 P,都是配备横向加热高性能石墨炉的紧凑型光谱仪。用于塞曼背景校正的塞曼磁场可根据不同应用调整磁场强度,ZUI高可达1特斯拉,提供ZUI大灵敏度和扩展的工作范围。系统还配备了强大的氘灯背景校正技术。

ZEEnit 700 P 具有全自动火焰模式,可在第二个串联的原子化器单元使用,从而覆盖广泛的浓度范围。系统的操作简单好友,自动化程度高。这是通过众多集成组件实现的,例如带有 8 个空心阴极灯的旋转灯架、用于编码空心阴极灯和超灯的 RFID工具、具有自动稀释功能的石墨炉自动进样器和可视系统。内置典型应用方法,软件中的快速启动功能可以快速启动常规应用。通过独特的固体直接进样技术和石墨炉技术的结合,可以ZUI大限度地减少样品制备。



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Analytik Jena ZEEnit Series


带有塞曼技术的原子吸收光谱仪, 适用于复杂基体样品


ZEEnit系列专为复杂基体样品中的痕量元素分析而设计。系统结合了出 色的石墨炉概念与ZUI强大和ZUI新一代的塞曼背景校正技术和氘灯背景校正。

可变磁场强度(2磁场/3磁场和动态模式) – ZUI大灵敏度和线性工作范围的扩展
包括自动校准和样品稀释等智能功能,广泛的配件,ZUI大限度地提高生产力、安全性和易用性

可升级的固体样品直接进样分析技术

即使测试最复杂的基体,也能进行可 靠的痕量分析
广泛的动态浓度范围
ZUI佳使用性 – 无需专业知识